KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Paul S. Ho | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 17 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

ELECTROMIGRATION IN METALS: FUNDAMENTALS TO NANO-INTERCONNECTS

Tekijä: Paul S. Ho; Chao-Kun Hu; Martin Gall; Valeriy Sukharev
Kustantaja: Cambridge University Press (2022)
Saatavuus: Noin 13-16 arkipäivää

EUR 92,00

STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION : TENTH INTERNATIONAL WORKSHOP ON STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION

Tekijä: Paul S. Ho (ed.); Ehrenfried Zschech (ed.); Shinichi Ogawa (ed.)
Kustantaja: American Institute of Physics (2009)
Saatavuus: Loppuunmyyty.

EUR 100,90

STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION : SEVENTH INTERNATIONAL WORKSHOP ON STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION

Tekijä: Paul S. Ho (ed.); Shefford P. Baker (ed.); Tomoji Nakamura (ed.); Cynthia A. Volkert (ed.)
Kustantaja: American Institute of Physics (2004)
Saatavuus: Loppuunmyyty.

EUR 148,80

LOW DIELECTRIC CONSTANT MATERIALS FOR IC APPLICATIONS

Tekijä: Paul S. Ho (ed.); Jihperng Leu (ed.); Wei William Lee (ed.)
Kustantaja: Springer (2012)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 129,90

ELECTRONIC PACKAGING MATERIALS SCIENCE VI: VOLUME 264

Tekijä: Paul S. Ho; Kenneth A. Jackson; Che-Yu Li; G. Ferris Lipscomb
Kustantaja: Materials Research Society (1992)
Saatavuus: Noin 13-16 arkipäivää

EUR 29,80

STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION : THIRD INTERNATIONAL WORKSHOP

Tekijä: Paul S. Ho (ed.); John Bravman (ed.); Che-Yu Li (ed.); John Sanchez (ed.)
Kustantaja: American Institute of Physics (1998)
Saatavuus: Loppuunmyyty.

EUR 180,50

STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION : EIGHTH INTERNATIONAL WORKSHOP ON STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION

Tekijä: Ehrenfried Zschech (ed.); Karen Maex (ed.); Paul S. Ho (ed.); Hisao Kawasaki (ed.); Tomoji Nakamura (ed.)
Kustantaja: American Institute of Physics (2006)
Saatavuus: Loppuunmyyty.

EUR 159,90

LOW DIELECTRIC CONSTANT MATERIALS FOR IC APPLICATIONS

Tekijä: Paul S. Ho; Jihperng Leu; Wei William Lee
Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2002)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 129,90

ELECTRONIC PACKAGING MATERIALS SCIENCE V: VOLUME 203

Tekijä: Edwin D. Lillie; Paul S. Ho; Ralph Jaccodine; Kenneth Jackson
Kustantaja: Materials Research Society (1991)
Saatavuus: | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa

EUR 37,30

MATERIALS RELIABILITY ISSUES IN MICROELECTRONICS: VOLUME 225

Tekijä: James R. Lloyd; Frederick G. Yost; Paul S. Ho
Kustantaja: Materials Research Society (1991)
Saatavuus: | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa

EUR 38,80

MATERIALS RELIABILITY IN MICROELECTRONICS III: VOLUME 309

Tekijä: Kenneth P. Rodbell; William F. Filter; Harold J. Frost; Paul S. Ho
Kustantaja: Materials Research Society (1993)
Saatavuus: Noin 13-16 arkipäivää

EUR 36,20

ELECTRONIC PACKAGING MATERIALS SCIENCE IX: VOLUME 445

Tekijä: Steven K. Groothuis; Paul S. Ho; Kenzo Ishida; Tien Wu
Kustantaja: Materials Research Society (1997)
Saatavuus: | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa

EUR 29,40

MATERIALS RELIABILITY IN MICROELECTRONICS III: VOLUME 309

Tekijä: Kenneth P. Rodbell; William F. Filter; Harold J. Frost; Paul S. Ho
Kustantaja: Cambridge University Press (2014)
Saatavuus: | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa

EUR 32,80

STRESS INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION: FIFTH INTERNATIONAL WORKSHOP : STUTTGART, GERMANY, JUNE 23-25, 1999

Tekijä: Oliver Kraft (ed.); Eduard Arzt (ed.); Cynthia A. Volkert (ed.); Paul S. Ho (ed.); Hidekazu Okabayashi (ed.)
Kustantaja: American Institute of Physics (1999)
Saatavuus: Loppuunmyyty.

EUR 62,10

STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION : NINTH INTERNATIONAL WORKSHOP ON STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION

Tekijä: Shinichi Ogawa (ed.); Paul S. Ho (ed.); Ehrenfried Zschech (ed.)
Kustantaja: American Institute of Physics (2007)
Saatavuus: Loppuunmyyty.

EUR 141,30

STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION : 11TH INTERNATIONAL WORKSHOP

Tekijä: Ehrenfried Zschech (ed.); Shinichi Ogawa (ed.); Paul S. Ho (ed.)
Kustantaja: American Institute of Physics (2010)
Saatavuus: Loppuunmyyty.

EUR 126,80

STRESS INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION : FOURTH INTERNATIONAL WORKSHOP

Tekijä: Hidekazu Okabayashi (ed.); Shoso Shingubara (ed.); Paul S. Ho (ed.)
Kustantaja: American Institute of Physics (1998)
Saatavuus: Loppuunmyyty.

EUR 127,30

Hae lisää...

Electromigration in Metals: Fundamentals to Nano-Interconnects

Paul S. Ho, Chao-Kun Hu, Martin Gall, Valeriy Sukharev

92,00 €

Cambridge University Press
Sivumäärä: 430 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2022, 12.05.2022 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Learn to assess electromigration reliability and design more resilient chips in this comprehensive and practical resource. Beginning with fundamental physics and building to advanced methodologies, this book enables the reader to develop highly reliable on-chip wiring stacks and power grids. Through a detailed review on the role of microstructure, interfaces and processing on electromigration reliability, as well as characterisation, testing and analysis, the book follows the development of on-chip interconnects from microscale to nanoscale. Practical modeling methodologies for statistical analysis, from simple 1D approximation to complex 3D description, can be used for step-by-step development of reliable on-chip wiring stacks and industrial-grade power/ground grids. This is an ideal resource for materials scientists and reliability and chip design engineers.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 13-16 arkipäivässä

Myymäläsaatavuus