Stress-Induced Phenomena in Metallization : Third International Workshop, Ho, Paul S. (ed.); Bravman, John (ed.); Li, Che-Yu (ed.); Sanchez, John (ed.), American Institute of Physics

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Stress-Induced Phenomena in Metallization : Third International Workshop

180,50 €

American Institute of Physics
Sivumäärä: 320 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1996
Julkaisuvuosi: 1998, 15.04.1998 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This text is aimed at engineers and research scientists working in the fields of microelectronics and ma terials science. '

Loppuunmyyty

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781563964398

Tuotesarja:

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja