Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309, Rodbell, Kenneth P.; Filter, William F.; Frost, Harold J.; Ho, Paul S., Cambridge University Press

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

32,80 €

Cambridge University Press
Sivumäärä: 514 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2014, 05.06.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781107409484

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja