Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309, Rodbell, Kenneth P.; Filter, William F.; Frost, Harold J.; Ho, Paul S., Materials Research Society

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

36,20 €

Materials Research Society
Sivumäärä: 516 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1993, 31.08.1993 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 9-12 arkipäivässä

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781558992054

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja