Stress-Induced Phenomena in Metallization : Seventh International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization, Ho, Paul S. (ed.); Baker, Shefford P. (ed.); Nakamura, Tomoji (ed.); Volkert, Cynthia A. (ed.), American Institute of Physics

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Stress-Induced Phenomena in Metallization : Seventh International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization

Paul S. Ho (ed.), Shefford P. Baker (ed.), Tomoji Nakamura (ed.), Cynthia A. Volkert (ed.)

148,80 €

American Institute of Physics
Sivumäärä: 250 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2004
Julkaisuvuosi: 2004, 14.12.2004 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: AIP Conference Proceedings Stress-Induced Phenomena Metallizat.

These proceedings contain new research results and advances in basic understanding of stress-induced phenomena in metallization. Papers cover results on electromigration, thermal stresses and void formation in copper-low k interconnect structures.

Loppuunmyyty

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Stress-Induced Phenomena in Metallization : Seventh International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9780735402256

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » Material Science

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste