Sudeb Dasgupta (ed.) | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

VLSI DESIGN AND TEST : 21ST INTERNATIONAL SYMPOSIUM, VDAT 2017, ROORKEE, INDIA, JUNE 29 – JULY 2, 2017, REVISED SELECTED PAPERS

Tekijä: Brajesh Kumar Kaushik (ed.); Sudeb Dasgupta (ed.); Virendra Singh (ed.)
Kustantaja: Springer (2017)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 97,90

VLSI DESIGN AND TEST : 23RD INTERNATIONAL SYMPOSIUM, VDAT 2019, INDORE, INDIA, JULY 4–6, 2019, REVISED SELECTED PAPERS

Tekijä: Anirban Sengupta (ed.); Sudeb Dasgupta (ed.); Virendra Singh (ed.); Rohit Sharma (ed.); Santosh Kumar Vishvakarma (ed.)
Kustantaja: Springer (2019)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 105,60

VLSI DESIGN AND TEST : 26TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM, VDAT 2022, JAMMU, INDIA, JULY 17–19, 2022, REVISED SELECTED PAPERS

Tekijä: Ambika Prasad Shah (ed.); Sudeb Dasgupta (ed.); Anand Darji (ed.); Jaynarayan Tudu (ed.)
Kustantaja: Springer (2022)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 97,90

VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers

Brajesh Kumar Kaushik (ed.), Sudeb Dasgupta (ed.), Virendra Singh (ed.)

97,90 €

Springer
Sivumäärä: 815 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2017, 22.12.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.
The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 17-20 arkipäivässä

Myymäläsaatavuus