SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Linards Skuja | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
Gianfranco Pacchioni; Linards Skuja; David L. Griscom
Springer (2000)
Kovakantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
Gianfranco Pacchioni; Linards Skuja; David L. Griscom
Springer (2000)
Pehmeäkantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
172,80 €
Springer
Sivumäärä: 624 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2000
Julkaisuvuosi: 2000, 31.12.2000 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry 2
Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies.
This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technologyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780792366850
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste