SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
| Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology 172,80 € Springer Sivumäärä: 624 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Painos: 2000 Julkaisuvuosi: 2000, 31.12.2000 (lisätietoa) Kieli: Englanti Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 17-20 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780792366867 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |