SULJE VALIKKO

avaa valikko

Kenneth P. Rodbell | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Kenneth P. Rodbell; William F. Filter; Harold J. Frost; Paul S. Ho
Materials Research Society (1993)
Kovakantinen kirja
36,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Kenneth P. Rodbell; William F. Filter; Harold J. Frost; Paul S. Ho
Cambridge University Press (2014)
Pehmeäkantinen kirja
33,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338
Peter Borgesen; John C. Coburn; William F. Filter; Sanchez, Jr., John E.; Kenneth P. Rodbell
Materials Research Society (1994)
Kovakantinen kirja
30,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
36,70 €
Materials Research Society
Sivumäärä: 516 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1993, 31.08.1993 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 2-3 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309zoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781558992054
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste