SULJE VALIKKO

avaa valikko

GIANFRANCO PACCHIONI | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 17 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
Gianfranco Pacchioni; Linards Skuja; David L. Griscom
Springer (2000)
Kovakantinen kirja
179,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
Gianfranco Pacchioni; Linards Skuja; David L. Griscom
Springer (2000)
Pehmeäkantinen kirja
179,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Idee per diventare scienziato dei materiali. Dall'invenzione della carta alle nanotecnologie
Gianfranco Pacchioni
Zanichelli (2005)
Pehmeäkantinen kirja
45,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Quantoè piccolo il mondo. Sorprese e speranze dalle nanotecnologie
Gianfranco Pacchioni
Zanichelli (2007)
Pehmeäkantinen kirja
47,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Cluster Models for Surface and Bulk Phenomena
Gianfranco Pacchioni; Paul S. Bagus; Fulvio Parmigiani
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
101,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
CLUSTER MODELS FOR SURFACE&B
Gianfranco Pacchioni; Paul S. Bagus; Fulvio Parmigiani
SPRINGER NATURE (1992)
Kovakantinen kirja
183,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scienza, quo vadis? Tra passione intellettuale e mercato
Gianfranco Pacchioni
Il Mulino (2017)
Pehmeäkantinen kirja
42,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanotecnologie! Una rivoluzione già iniziata
Gianfranco Pacchioni
Scienza Express (2017)
Pehmeäkantinen kirja
43,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The Overproduction of Truth
Gianfranco Pacchioni
Oxford University Press (2018)
Kovakantinen kirja
42,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
L'ultimo sapiens. Viaggio al termine della nostra specie
Gianfranco Pacchioni
Il Mulino (2019)
Pehmeäkantinen kirja
49,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
La ciencia en la encrucijada
GIANFRANCO PACCHIONI
ALIANZA (2021)
15,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Core Level Spectroscopies for Magnetic Phenomena : Theory and Experiment
Paul S. Bagus (ed.); Gianfranco Pacchioni (ed.); Fulvio Parmigiani (ed.)
Springer (1995)
Kovakantinen kirja
101,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Chemisorption and Reactivity on Supported Clusters and Thin Films: - Towards an Understanding of Microscopic Processes in Cataly
R.M. Lambert; Gianfranco Pacchioni
Springer (1997)
Kovakantinen kirja
179,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Chemisorption and Reactivity on Supported Clusters and Thin Films: : Towards an Understanding of Microscopic Processes in Cataly
R.M. Lambert (ed.); Gianfranco Pacchioni (ed.)
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja
179,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Elemental and Molecular Clusters : Proceedings of the 13th International School, Erice, Italy, July 1–15, 1987
Giorgio Benedek (ed.); Thomas P. Martin (ed.); Gianfranco Pacchioni (ed.)
Springer (2011)
Pehmeäkantinen kirja
101,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Core Level Spectroscopies for Magnetic Phenomena : Theory and Experiment
Paul S. Bagus (ed.); Gianfranco Pacchioni (ed.); Fulvio Parmigiani (ed.)
Springer (2013)
Pehmeäkantinen kirja
101,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
179,00 €
Springer
Sivumäärä: 624 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2000 ed.
Julkaisuvuosi: 2000, 31.12.2000 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry 2
Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies.
This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technologyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780792366850
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste