SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
VLSI DESIGN AND TEST : 17TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM, VDAT 2013, JAIPUR, INDIA, JULY 27-30, 2013, PROCEEDINGS | ||
| VLSI Design and Test : 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings 49,60 € Springer Sivumäärä: 388 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Painos: 2013 Julkaisuvuosi: 2013, 10.12.2013 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: Communications in Computer and Information Science 382 This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 5-6 viikossa. Tilaa tuote jouluksi viimeistään 13.11.2024
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9783642420238 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |