Advances in X-Ray Analysis : Volume 10
SpringerSivumäärä: 558 sivuaAsu: Pehmeäkantinen kirjaJulkaisuvuosi: 2012, 12.06.2012 (lisätietoa)Kieli: Englanti The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 16-19 arkipäivässä