SULJE VALIKKO

avaa valikko

Advances in X-Ray Analysis : Volume 10
49,60 €
Springer
Sivumäärä: 558 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2012, 12.06.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses­ sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 16-19 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in X-Ray Analysis : Volume 10
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781468478372
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste