SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

John B. Newkirk | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 6 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Advances in X-Ray Analysis: Volume 10
John B. Newkirk; Gavin R. Mallett
Springer Science+Business Media (1995)
Kovakantinen kirja
131,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis: Volume 11 - Proceedings of the Sixteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held Au
John B. Newkirk; Gavin R. Mallett; Heinz G. Pfeiffer
Springer Science+Business Media (1995)
Kovakantinen kirja
131,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-ray Analysis - Proceedings of the Sixteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 9–11,
John B. Newkirk; Gavin R. Mallett; Heinz G. Pfeiffer
Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Pehmeäkantinen kirja
134,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 10
John B. Newkirk; Gavin R. Mallett
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
51,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis: Advances in X-Ray Analysis Proceedings of the Seventeenth Annual Conference on Applications of X-Ray
Charles S. Barrett; John B. Newkirk; Gavin R. Mallett
Springer Science+Business Media (1969)
Kovakantinen kirja
131,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 12: Proceedings of the Seventeenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held
Charles S. Barrett; John B. Newkirk; Gavin R. Mallett
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
51,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis: Volume 10
131,10 €
Springer Science+Business Media
Sivumäärä: 567 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1995, 31.12.1995 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses- sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in X-Ray Analysis: Volume 10
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780306381102
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste