SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Acoustic Scanning Probe Microscopy
97,90 €
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sivumäärä: 494 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2013 ed.
Julkaisuvuosi: 2012, 04.10.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: NanoScience and Technology
The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive review of different scanning probe acoustic techniques, including AFAM, UAFM, SNFUH, UFM, SMM and torsional tapping modes. Basic theoretical explanations are given to understand not only the probe dynamics but also the dynamics of tip surface contacts. Calibration and enhancement are discussed to better define the performance of the techniques, which are also compared with other classical techniques such as nanoindentation or surface acoustic wave. Different application fields are described, including biological surfaces, polymers and thin films.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Acoustic Scanning Probe Microscopyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783642274930
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste