KIRJAUDU
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
101,40 €
Springer
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1989 ed.
Julkaisuvuosi: 1989, 30.06.1989 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 73
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1989 ed.
Julkaisuvuosi: 1989, 30.06.1989 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 73
Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Volume: 73
Book description: N/A
Volume: 73
Book description: N/A
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780792390251
Aihealue:
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajatUsein kysytyt Akateemisen Ystäväklubi Toimitusehdot Tietosuojaseloste |
Seuraa Akateemista
InstagramThreads TikTok YouTube |