Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation, Kwang-Ting (Tim) Cheng; Agrawal, Vishwani D., Springer

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

97,90 €

Springer
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1989
Julkaisuvuosi: 1989, 30.06.1989 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 73

Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Volume: 73

Book description: N/A

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9780792390251

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja