SULJE VALIKKO

Aloita uusi vuosi uusilla tarinoilla
Näistä puhumme juuri nyt!
Henkilökunta suosittelee
Kaunokirjallisuus
Kotimainen kaunokirjallisuus
Käännetty kaunokirjallisuus
Runous
Sarjakuvat
Mietelauseet
Pokkarit
Keltainen Kirjasto
Otavan kirjasto
Tietokirjallisuus
Elämänkerrat ja muistelmat
Yleistieto
Tietotekniikka
Ajoneuvot
Taide ja arkkitehtuuri
Käsityötaide
Historia
Yhteiskunta
Yritykset ja talous
Oikeustiede
Lääketiede
Kalenterit
Hyvinvointikirjat
Elämäntaito
Ihmissuhteet
Kauneus ja terveys
Psykologia
Lapset, vauvat, raskaus
Voimistelu
Harrastekirjat
Keittokirjat
Sisustus
Käsityöt
Talo ja piha
Puutarha ja kasvit
Urheilu ja ulkoilu
Matkakirjat
Eläimet
Musiikki
Valokuvaus
Metsästys ja kalastus
Lastenkirjat
Kuvakirjat
Oppi&ilo tuotteet kaikenikäisille
Nuortenkirjat
Selkokirjat
Lahjakortti
Tietoa verkkokaupasta
Akateeminen Kirjakauppa
akateeminen.com
Myymälät
Yhteystiedot
Uutiset

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Kwang-Ting (Tim) Cheng | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 7 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
UNIFIED METHODS FOR VLSI SIMULATION AND TEST GENERATION
Kwang-Ting (Tim) Cheng; Vishwani D. Agrawal
Springer (1989)
Kovakantinen kirja
101,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
FORMAL EQUIVALENCE CHECKING AND DESIGN DEBUGGING
Shi-Yu Huang; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (1998)
Kovakantinen kirja
161,20 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS
Angela Krstic; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (1998)
Kovakantinen kirja
134,60 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
FORMAL EQUIVALENCE CHECKING AND DESIGN DEBUGGING
Shi-Yu Huang; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
161,20 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS
Angela Krstic; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (2012)
Pehmeäkantinen kirja
134,60 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Electronic Design Automation - Synthesis, Verification, and Test
ELECTRONIC DESIGN AUTOMATION - SYNTHESIS, VERIFICATION, AND TEST
Laung-Terng Wang; Yao-Wen Chang; Kwang-Ting Cheng (Tim)
Elsevier Science & Technology (2009)
Kovakantinen kirja
105,80 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
EFFICIENT TEST METHODOLOGIES FOR HIGH-SPEED SERIAL LINKS
Dongwoo Hong; Kwang-Ting Cheng (Tim)
SPRINGER VERLAG GMBH (2010)
Pehmeäkantinen kirja
68,20 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Kwang-Ting (Tim) Cheng, Vishwani D. Agrawal
101,40 €
Springer
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1989
Julkaisuvuosi: 1989, 30.06.1989 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 73
Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Volume: 73

Book description: N/A

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generationzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780792390251
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Technology » Electronics » General
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Yhteystiedot
Toimitusehdot
Asiakaspalvelu
Tietosuojaseloste