SULJE VALIKKO

avaa valikko

Kwang-Ting (Tim) Cheng | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 7 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Kwang-Ting (Tim) Cheng; Vishwani D. Agrawal
Springer (1989)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
Shi-Yu Huang; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (1998)
Kovakantinen kirja
155,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Angela Krstic; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (1998)
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
Shi-Yu Huang; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
155,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Angela Krstic; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (2012)
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Electronic Design Automation - Synthesis, Verification, and Test
Laung-Terng Wang; Yao-Wen Chang; Kwang-Ting Cheng (Tim)
Elsevier Science & Technology (2009)
Kovakantinen kirja
102,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Dongwoo Hong; Kwang-Ting Cheng (Tim)
SPRINGER VERLAG GMBH (2010)
Pehmeäkantinen kirja
66,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
97,90 €
Springer
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1989
Julkaisuvuosi: 1989, 30.06.1989 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 73
Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Volume: 73

Book description: N/A

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generationzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780792390251
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste