Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII, Kullberg, Richard C.; Ramesham, Rajeshuni, SPIE Press

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII

Richard C. Kullberg, Rajeshuni Ramesham

154,40 €

SPIE Press
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2009, 01.01.2009 (lisätietoa)

Some previous conferences entitled: Reliability, packaging, testing, and characterization of MEMS/MOEMS.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9780819474520

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste