SULJE VALIKKO

Näistä puhumme juuri nyt!
Henkilökunnan suosikit
Kaunokirjallisuus
Kotimainen kaunokirjallisuus
Käännetty kaunokirjallisuus
Runous
Sarjakuvat
Mietelauseet
Pokkarit
Tietokirjallisuus
Elämänkerrat ja muistelmat
Yleistieto
Tietotekniikka
Ajoneuvot
Taide ja arkkitehtuuri
Käsityötaide
Historia
Yhteiskunta
Yritykset ja talous
Oikeustiede
Lääketiede
Kalenterit
Hyvinvointikirjat
Elämäntaito
Ihmissuhteet
Kauneus ja terveys
Psykologia
Lapset, vauvat, raskaus
Voimistelu
Harrastekirjat
Keittokirjat
Sisustus
Käsityöt
Talo ja piha
Puutarha ja kasvit
Urheilu ja ulkoilu
Matkakirjat
Eläimet
Musiikki
Valokuvaus
Metsästys ja kalastus
Lastenkirjat
Kuvakirjat
Oppi&ilo tuotteet kaikenikäisille
Nuortenkirjat
Selkokirjat
Lahjakortti
Tietoa verkkokaupasta
Akateeminen Kirjakauppa
akateeminen.com
Myymälät
Yhteystiedot
Uutiset

avaa valikko

Rajeshuni Ramesham | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 10 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS
RELIABILITY, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS
Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (2001)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
162,50 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Testing and Characterization of MEMS/MOEMS
RELIABILITY, TESTING AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS
Rajeshuni Ramesham
SPIE (2003)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
204,50 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Moems/mems and Nanodevices XII - 4-5 February 2013, San Francisco, Cali
RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MOEMS/MEMS AND NANODEVICES XII - 4-5 FEBRUARY 2013, SAN FRANCISCO, CALI
Rajeshuni Ramesham; Herbert R. Shea
SPIE Press (2013)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
153,10 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VII
RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS VII
Allyson L. Hartzell; Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (2008)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
220,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV
RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS IV
Danelle M. Tanner; Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (2005)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
220,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS V
RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS V
Danelle M. Tanner; Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (2006)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
220,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III
RELIABILITY, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS III
Danelle M. Tanner; Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (1985)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
220,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/moems VI
RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS VI
Allyson L. Hartzell; Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (2007)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
220,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII
RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS AND NANODEVICES VIII
Richard C. Kullberg; Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (2009)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
153,10 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII
RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MOEMS/MEMS, NANODEVICES, AND NANOMATERIALS XIII
Herbert R. Shea; Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (2014)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
164,30 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS
Rajeshuni Ramesham
162,50 €
SPIE Press
Sivumäärä: 324 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2001, 02.10.2001 (lisätietoa)
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819442864
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Yhteystiedot
Toimitusehdot
Asiakaspalvelu
Tietosuojaseloste