SULJE VALIKKO

avaa valikko

Richard C. Kullberg | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/moems and Nanodevices IX
Richard C. Kullberg
SPIE Press (2010)
Pehmeäkantinen kirja
159,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII
Richard C. Kullberg; Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (2009)
Pehmeäkantinen kirja
154,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/moems and Nanodevices IX
159,70 €
SPIE Press
Sivumäärä: 344 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 15.05.2010 (lisätietoa)
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/moems and Nanodevices IX
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819479884
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste