SULJE VALIKKO

avaa valikko

Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices
59,30 €
Springer Verlag, Singapore
Sivumäärä: 50 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 1st ed. 2020
Julkaisuvuosi: 2020, 20.05.2020 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Nanoscience and Nanotechnology
This book assesses the thermal feasibility of using materials with atomically thin layers such as graphene and the transition metal dichalcogenides family in electronics and optoelectronics applications. The focus is on thermal conductivity measurement techniques currently available for the investigation of thermal performance at the material and device level. In addition to providing detailed information on the available techniques, the book introduces readers to novel techniques based on photothermal effects. 

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Deviceszoom
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste