![Akateeminen Kirjakauppa](/images/index/logo-1195.jpg)
SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
THERMAL CONDUCTIVITY MEASUREMENTS IN ATOMICALLY THIN MATERIALS AND DEVICES | ||
| Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices 61,40 € Springer Verlag, Singapore Sivumäärä: 50 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Painos: 2020 ed. Julkaisuvuosi: 2020, 20.05.2020 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: Nanoscience and Nanotechnology This book assesses the thermal feasibility of using materials with atomically thin layers such as graphene and the transition metal dichalcogenides family in electronics and optoelectronics applications. The focus is on thermal conductivity measurement techniques currently available for the investigation of thermal performance at the material and device level. In addition to providing detailed information on the available techniques, the book introduces readers to novel techniques based on photothermal effects. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
![]() ![]() ![]() ![]() Näytä kaikki tuotetiedot |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |