SULJE VALIKKO

avaa valikko

Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memories
104,50 €
Sivumäärä: 448 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2002, 10.06.2002 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book deals with primarily with reliable and faul-tolerant circuit design and evaluation techniques for RAMS. It examines both the manufacturing faul-tolerance (e.g. self-repair at the time of manufacturing) and online and field-related fault-tolerance (e.g. error-correction). It talks a lot about important techniques and requirements, and explains what needs to be done and why for each of the techniques.



Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memorieszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780130084651
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste