SULJE VALIKKO

avaa valikko

Abhishek Chakraborty | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 7 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memories
Abhishek Chakraborty; Pinaki Mazumder
(2002)
Kovakantinen kirja
109,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Storylane
Abhishek Chakraborty
Notion Press (2020)
Pehmeäkantinen kirja
48,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Complex Networks -  A Networking and Signal Processing Perspective
B. S. Manoj; Abhishek Chakraborty; Rahul Singh
Pearson Education (US) (2018)
Kovakantinen kirja
86,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Geospatial Technologies for Crops and Soils
Tarik Mitran; Ram Swaroop Meena; Abhishek Chakraborty
Springer Verlag, Singapore (2020)
Kovakantinen kirja
196,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Geospatial Technologies for Crops and Soils
Tarik Mitran; Ram Swaroop Meena; Abhishek Chakraborty
Springer Verlag, Singapore (2021)
Pehmeäkantinen kirja
196,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The Language of Divinity
Purba Chakraborty; Abhishek Thakkar
Notion Press Media Pvt. Ltd (2024)
Pehmeäkantinen kirja
19,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The Language of Divinity
Purba Chakraborty; Abhishek Thakkar
Notion Press Media Pvt. Ltd (2024)
Kovakantinen kirja
32,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memories
109,90 €
Sivumäärä: 448 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2002, 10.06.2002 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book deals with primarily with reliable and faul-tolerant circuit design and evaluation techniques for RAMS. It examines both the manufacturing faul-tolerance (e.g. self-repair at the time of manufacturing) and online and field-related fault-tolerance (e.g. error-correction). It talks a lot about important techniques and requirements, and explains what needs to be done and why for each of the techniques.



Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memorieszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780130084651
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajat
Usein kysytyt
Akateemisen Ystäväklubi
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Seuraa Akateemista
Instagram
Facebook
Threads
TikTok
YouTube
LinkedIn