SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
| Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memories 105,70 € Sivumäärä: 448 sivua Asu: Kovakantinen kirja Julkaisuvuosi: 2002, 10.06.2002 (lisätietoa) Kieli: Englanti This book deals with primarily with reliable and faul-tolerant circuit design and evaluation techniques for RAMS. It examines both the manufacturing faul-tolerance (e.g. self-repair at the time of manufacturing) and online and field-related fault-tolerance (e.g. error-correction). It talks a lot about important techniques and requirements, and explains what needs to be done and why for each of the techniques. Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780130084651 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |