SULJE VALIKKO

avaa valikko

Pinaki Mazumder | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 8 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memories
Abhishek Chakraborty; Pinaki Mazumder
(2002)
Saatavuus: Loppuunmyyty
Kovakantinen kirja
104,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
VLSI Interconnect Technology with Artificial Plasmonics
Soumitra R. Joy; Pinaki Mazumder
Wiley-Blackwell (2025)
Saatavuus: Tulossa!
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
VLSI Interconnect Technology with Artificial Plasmonics
Soumitra R. Joy; Pinaki Mazumder
Wiley-Blackwell (2025)
Saatavuus: Tulossa!
Muu digitaalinen tallenne
148,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Genetic Algorithms for VLSI Design, Layout and Test Automation
Pinaki Mazumder; Elizabeth Rudnick
Pearson Education (US) (1998)
Saatavuus: Loppuunmyyty
Pehmeäkantinen kirja
126,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Neuromorphic Circuits for Nanoscale Devices
Pinaki Mazumder; Yalcin Yilmaz; Idongesit Ebong
River Publishers (2019)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
131,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Lectures on Digital Design Principles
Pinaki Mazumder; Idongesit E. Ebong
River Publishers (2023)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
126,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Neuromorphic Circuits for Nanoscale Devices
Pinaki Mazumder; Yalcin Yilmaz; Idongesit Ebong
River Publishers (2024)
Saatavuus: Tulossa!
Pehmeäkantinen kirja
58,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Learning in Energy-Efficient Neuromorphic Computing: Algorithm and Architecture Co-Design
Nan Zheng; Pinaki Mazumder
John Wiley & Sons Inc (2019)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
124,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memories
104,30 €
Sivumäärä: 448 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2002, 10.06.2002 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book deals with primarily with reliable and faul-tolerant circuit design and evaluation techniques for RAMS. It examines both the manufacturing faul-tolerance (e.g. self-repair at the time of manufacturing) and online and field-related fault-tolerance (e.g. error-correction). It talks a lot about important techniques and requirements, and explains what needs to be done and why for each of the techniques.



Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memorieszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780130084651
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste