SULJE VALIKKO

Aloita uusi vuosi uusilla tarinoilla
Näistä puhumme juuri nyt!
Henkilökunta suosittelee
Kaunokirjallisuus
Kotimainen kaunokirjallisuus
Käännetty kaunokirjallisuus
Runous
Sarjakuvat
Mietelauseet
Pokkarit
Keltainen Kirjasto
Otavan kirjasto
Tietokirjallisuus
Elämänkerrat ja muistelmat
Yleistieto
Tietotekniikka
Ajoneuvot
Taide ja arkkitehtuuri
Käsityötaide
Historia
Yhteiskunta
Yritykset ja talous
Oikeustiede
Lääketiede
Kalenterit
Hyvinvointikirjat
Elämäntaito
Ihmissuhteet
Kauneus ja terveys
Psykologia
Lapset, vauvat, raskaus
Voimistelu
Harrastekirjat
Keittokirjat
Sisustus
Käsityöt
Talo ja piha
Puutarha ja kasvit
Urheilu ja ulkoilu
Matkakirjat
Eläimet
Musiikki
Valokuvaus
Metsästys ja kalastus
Lastenkirjat
Kuvakirjat
Oppi&ilo tuotteet kaikenikäisille
Nuortenkirjat
Selkokirjat
Lahjakortti
Tietoa verkkokaupasta
Akateeminen Kirjakauppa
akateeminen.com
Myymälät
Yhteystiedot
Uutiset

avaa valikko

Vishwani Agrawal | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 7 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
UNIFIED METHODS FOR VLSI SIMULATION AND TEST GENERATION
Kwang-Ting (Tim) Cheng; Vishwani D. Agrawal
Springer (1989)
Kovakantinen kirja
101,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Concurrent and Comparative Discrete Event Simulation
CONCURRENT AND COMPARATIVE DISCRETE EVENT SIMULATION
Ernst G. Ulrich; Vishwani D. Agrawal; Jack H. Arabian
Springer (1993)
Kovakantinen kirja
101,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
NEURAL MODELS AND ALGORITHMS FOR DIGITAL TESTING
S.T. Chadradhar; Vishwani Agrawal; M. Bushnell
Springer (1991)
Kovakantinen kirja
101,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS
M. Bushnell; Vishwani Agrawal
Springer (2000)
Kovakantinen kirja
131,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Concurrent and Comparative Discrete Event Simulation
CONCURRENT AND COMPARATIVE DISCRETE EVENT SIMULATION
Ernst G. Ulrich; Vishwani D. Agrawal; Jack H. Arabian
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
101,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
NEURAL MODELS AND ALGORITHMS FOR DIGITAL TESTING
S.T. Chadradhar; Vishwani Agrawal; M. Bushnell
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
101,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS
M. Bushnell; Vishwani Agrawal
Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Pehmeäkantinen kirja
131,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Kwang-Ting (Tim) Cheng, Vishwani D. Agrawal
101,40 €
Springer
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1989
Julkaisuvuosi: 1989, 30.06.1989 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 73
Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Volume: 73

Book description: N/A

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generationzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780792390251
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Technology » Electronics » General
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Yhteystiedot
Toimitusehdot
Asiakaspalvelu
Tietosuojaseloste