SULJE VALIKKO

avaa valikko

Takayuki Ohba | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Advanced Nanoscale ULSI Interconnects:  Fundamentals and Applications
Yosi Shacham-Diamand; Tetsuya Osaka; Madhav Datta; Takayuki Ohba
Springer-Verlag New York Inc. (2009)
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advanced Metallization Conference 2000 (AMC 2000): Volume 16
Dan Edelstein; Girish Dixit; Yukio Yasuda; Takayuki Ohba
Materials Research Society (2002)
Kovakantinen kirja
29,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advanced Metallization Conference 2001 (AMC 2001): Volume 17
Andrew J. McKerrow; Yosi Sacham-Diamand; Shigeaki Zaima; Takayuki Ohba
Materials Research Society (2002)
Kovakantinen kirja
33,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advanced Nanoscale ULSI Interconnects:  Fundamentals and Applications
Yosi Shacham-Diamand; Tetsuya Osaka; Madhav Datta; Takayuki Ohba
Springer-Verlag New York Inc. (2014)
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advanced Nanoscale ULSI Interconnects: Fundamentals and Applications
129,90 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 552 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2009 ed.
Julkaisuvuosi: 2009, 27.10.2009 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
In Advanced ULSI interconnects – fundamentals and applications we bring a comprehensive description of copper-based interconnect technology for ultra-lar- scale integration (ULSI) technology for integrated circuit (IC) application. In- grated circuit technology is the base for all modern electronics systems. You can ?nd electronics systems today everywhere: from toys and home appliances to a- planes and space shuttles. Electronics systems form the hardware that together with software are the bases of the modern information society. The rapid growth and vast exploitation of modern electronics system create a strong demand for new and improved electronic circuits as demonstrated by the amazing progress in the ?eld of ULSI technology. This progress is well described by the famous “Moore’s law” which states, in its most general form, that all the metrics that describe integrated circuit performance (e. g. , speed, number of devices, chip area) improve expon- tially as a function of time. For example, the number of components per chip d- bles every 18 months and the critical dimension on a chip has shrunk by 50% every 2 years on average in the last 30 years. This rapid growth in integrated circuits te- nology results in highly complex integrated circuits with an increasing number of interconnects on chips and between the chip and its package. The complexity of the interconnect network on chips involves an increasing number of metal lines per interconnect level, more interconnect levels, and at the same time a reduction in the interconnect line critical dimensions.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advanced Nanoscale ULSI Interconnects:  Fundamentals and Applicationszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780387958675
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste