KIRJAUDU
Reliability, Testing and Characterization of MEMS/MOEMS
204,50 €
SPIE
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: illustrated edition
Julkaisuvuosi: 2003, 31.01.2003 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: illustrated edition
Julkaisuvuosi: 2003, 31.01.2003 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819447807
Aihealue:
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |