SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
| Mitigation of Soft Errors in Nanoscale VLSI Circuits 106,30 € Springer Sivumäärä: 200 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 2014 Julkaisuvuosi: 2013, 28.10.2013 (lisätietoa) Kieli: Englanti Reliability is a key concern in VLSI systems and transient/intermittent faults, often caused by soft errors, require designers to create special mitigation techniques. This book describes such techniques, spanning all levels of the design flow, to reduce systematically the vulnerability of VLSI systems to soft errors. Readers will be enabled to address soft error issues early in their design flow, allowing them to weigh the implications of dedicating more resources for soft error detection and prevention, against the correlating impact on delay, power and area. Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781441993373 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |