SULJE VALIKKO

avaa valikko

Nagarajan Ranganathan | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 6 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Mitigation of Soft Errors in Nanoscale VLSI Circuits
Nagarajan Ranganathan; Koustav Bhattacharya
Springer (2013)
Kovakantinen kirja
106,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Molecular Genetic Analysis of Leaffolder Resistance in Rice
Kanagarajan Selvaraju; Ranganathan Balasaraswathi; Subbarayalu Mohankumar
LAP Lambert Academic Publishing (2012)
Pehmeäkantinen kirja
96,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Low-Power High-Level Synthesis for Nanoscale CMOS Circuits
Saraju P. Mohanty; Nagarajan Ranganathan; Elias Kougianos; Priyardarsan Patra
Springer-Verlag New York Inc. (2008)
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Low-Power High-Level Synthesis for Nanoscale CMOS Circuits
Saraju P. Mohanty; Nagarajan Ranganathan; Elias Kougianos; Priyardarsan Patra
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Low-Power High-Level Synthesis for Nanoscale CMOS Circuits
Saraju P. Mohanty; Nagarajan Ranganathan; Elias Kougianos
SPRINGER VERLAG GMBH (2009)
Pehmeäkantinen kirja
66,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Transactions on Computational Science XXIV - Special Issue on Reversible Computing
Marina L. Gavrilova; C.J. Kenneth Tan; Himanshu Thapliyal; Nagarajan Ranganathan
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2014)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Mitigation of Soft Errors in Nanoscale VLSI Circuits
106,30 €
Springer
Sivumäärä: 200 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2014
Julkaisuvuosi: 2013, 28.10.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Reliability is a key concern in VLSI systems and transient/intermittent faults, often caused by soft errors, require designers to create special mitigation techniques. This book describes such techniques, spanning all levels of the design flow, to reduce systematically the vulnerability of VLSI systems to soft errors. Readers will be enabled to address soft error issues early in their design flow, allowing them to weigh the implications of dedicating more resources for soft error detection and prevention, against the correlating impact on delay, power and area.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Mitigation of Soft Errors in Nanoscale VLSI Circuits
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781441993373
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste