SULJE VALIKKO

avaa valikko

Mohab Anis | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 12 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Mapping Innovation
Anis Mohab Anis; Chawky Sarah Chawky; Abdel Halim Aya Abdel Halim
Springer Nature B.V. (2022)
Pehmeäkantinen kirja
115,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Multi-Threshold CMOS Digital Circuits : Managing Leakage Power
Mohab Anis; Mohamed Elmasry
Springer (2003)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Low-Power Design of Nanometer FPGAs
Mohab Anis; Hassan Hassan
Morgan Kaufmann (2009)
Ladattava julkaisu
69,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Multi-Threshold CMOS Digital Circuits : Managing Leakage Power
Mohab Anis; Mohamed Elmasry
Springer (2012)
Pehmeäkantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanovate : Commercializing Disruptive Nanotechnologies
Mohab Anis; Ghada AlTaher; Wesam Sarhan; Mona Elsemary
Springer (2016)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanovate : Commercializing Disruptive Nanotechnologies
Mohab Anis; Ghada AlTaher; Wesam Sarhan; Mona Elsemary
Springer (2018)
Pehmeäkantinen kirja
117,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Mapping Innovation : The Discipline of Building Opportunity across Value Chains
Mohab Anis; Sarah Chawky; Aya Abdel Halim
Springer (2022)
Kovakantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Mapping Innovation : The Discipline of Building Opportunity across Value Chains
Mohab Anis; Sarah Chawky; Aya Abdel Halim
Springer (2023)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Low-Power Design of Nanometer FPGAs : Architecture and EDA
Hassan Hassan; Mohab Anis
Morgan Kaufmann (2009)
Kovakantinen kirja
91,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanometer Variation-Tolerant SRAM : Circuits and Statistical Design for Yield
Mohamed Abu Rahma; Mohab Anis
Springer (2012)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits
Mostafa Hassan; Anis Mohab; Elmasry Mohamed
LAP Lambert Academic Publishing (2014)
Pehmeäkantinen kirja
97,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanometer Variation-Tolerant SRAM : Circuits and Statistical Design for Yield
Mohamed Abu Rahma; Mohab Anis
Springer (2014)
Pehmeäkantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Springer Nature B.V.
Sivumäärä: 448 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2022, 25.08.2022 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Mapping Innovation
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783030936280
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste