Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits, Mostafa Hassan; Anis Mohab; Elmasry Mohamed, LAP Lambert Academic Publishing

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits

Mostafa Hassan, Anis Mohab, Elmasry Mohamed

97,30 €

LAP Lambert Academic Publishing
Sivumäärä: 296 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2014, 26.01.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9783659513619

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » Electronics » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste