SULJE VALIKKO

avaa valikko

Kwang-Ting Cheng | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 10 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Kwang-Ting (Tim) Cheng; Vishwani D. Agrawal
Springer (1989)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
Shi-Yu Huang; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (1998)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
155,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Angela Krstic; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (1998)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Electronic Design Automation - Synthesis, Verification, and Test
Laung-Terng Wang; Yao-Wen Chang; Kwang-Ting Cheng (Tim)
Elsevier Science & Technology (2009)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
102,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Dongwoo Hong; Kwang-Ting Cheng
Springer (2009)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
131,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Dongwoo Hong; Kwang-Ting Cheng (Tim)
SPRINGER VERLAG GMBH (2010)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
63,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
Shi-Yu Huang; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (2012)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
155,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Dongwoo Hong; Kwang-Ting Cheng
Springer (2012)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
131,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Angela Krstic; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (2012)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Design, Automation, and Test for Low-Power and Reliable Flexible Electronics
Tsung-Ching Huang; Jiun-Lang Huang; Kwang-Ting Cheng
now publishers Inc (2015)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
85,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
97,90 €
Springer
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1989
Julkaisuvuosi: 1989, 30.06.1989 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Volume: 73

Book description: N/A

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 17-20 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generationzoom
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste