Angela Duparre | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 6 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

ADVANCED CHARACTERIZATION TECHNIQUES FOR OPTICS, SEMICONDUCTORS, AND NANOTECHNOLOGIES III

Angela Duparre; Bhanwar Singh; Zu-Han Gu
SPIE Press (2007)
Pehmeäkantinen kirja

222,30 €

OPTICAL FABRICATION, TESTING, AND METROLOGY III

Angela Duparre; Roland Geyl
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja

222,30 €

OPTICAL METROLOGY ROADMAP FOR THE SEMICONDUCTOR, OPTICAL, AND DATA STORAGE INDUSTRIES II

Angela Duparre; Bhanwar Singh
SPIE Press (2001)
Pehmeäkantinen kirja

163,80 €

ADVANCED CHARACTERIZATION TECHNIQUES FOR OPTICAL, SEMICONDUCTOR, AND DATA STORAGE COMPONENTS

Angela Duparre; Bhanwar Singh
SPIE Press (2002)
Pehmeäkantinen kirja

163,80 €

ADVANCED CHARACTERIZATION TECHNIQUES FOR OPTICS, SEMICONDUCTORS, AND NANOTECHNOLOGIES II

Angela Duparre; Bhanwar Singh; Zu-Han Gu
SPIE Press (2005)
Pehmeäkantinen kirja

222,30 €

OPTICAL FABRICATION, TESTING, AND METROLOGY IV - 7-8 SEPTEMBER 2011, MARSEILLE, FRANCE

Angela Duparre
SPIE Press (2011)
Pehmeäkantinen kirja

193,10 €

Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies III

Angela Duparre, Bhanwar Singh, Zu-Han Gu

222,30 €

SPIE Press
Sivumäärä: 250 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2007, 30.11.2007 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus