SULJE VALIKKO

avaa valikko

Advanced Characterization Techniques for Optical, Semiconductor, and Data Storage Components
163,80 €
SPIE Press
Sivumäärä: 192 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2002, 30.09.2002 (lisätietoa)
This new edition takes into account advances in software and technology such as interactive whiteboards and digital cameras, focusing upon how these new resources can be most effectively used to enhance teaching and learning in the classroom.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advanced Characterization Techniques for Optical, Semiconductor, and Data Storage Components
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819445469
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste