SULJE VALIKKO

Näistä puhumme juuri nyt!
Henkilökunnan suosikit
Kaunokirjallisuus
Kotimainen kaunokirjallisuus
Käännetty kaunokirjallisuus
Runous
Sarjakuvat
Mietelauseet
Pokkarit
Tietokirjallisuus
Elämänkerrat ja muistelmat
Yleistieto
Tietotekniikka
Ajoneuvot
Taide ja arkkitehtuuri
Käsityötaide
Historia
Yhteiskunta
Yritykset ja talous
Oikeustiede
Lääketiede
Kalenterit
Hyvinvointikirjat
Elämäntaito
Ihmissuhteet
Kauneus ja terveys
Psykologia
Lapset, vauvat, raskaus
Voimistelu
Harrastekirjat
Keittokirjat
Sisustus
Käsityöt
Talo ja piha
Puutarha ja kasvit
Urheilu ja ulkoilu
Matkakirjat
Eläimet
Musiikki
Valokuvaus
Metsästys ja kalastus
Lastenkirjat
Kuvakirjat
Oppi&ilo tuotteet kaikenikäisille
Nuortenkirjat
Selkokirjat
Lahjakortti
Tietoa verkkokaupasta
Akateeminen Kirjakauppa
akateeminen.com
Myymälät
Yhteystiedot
Uutiset

avaa valikko

Zu-Han Gu | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 6 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces II - 2-4 August 2010, San Diego, California, United States
REFLECTION, SCATTERING, AND DIFFRACTION FROM SURFACES II - 2-4 AUGUST 2010, SAN DIEGO, CALIFORNIA, UNITED STATES
Zu-Han Gu
SPIE Press (2010)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Mikrofilmi
176,50 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces
REFLECTION, SCATTERING, AND DIFFRACTION FROM SURFACES
Zu-Han Gu; Leonard M. Hanssen
SPIE (2008)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
204,50 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology
SURFACE SCATTERING AND DIFFRACTION FOR ADVANCED METROLOGY
Zu-Han Gu; Alexei A. Maradudin
SPIE Press (2001)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
145,30 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II
SURFACE SCATTERING AND DIFFRACTION FOR ADVANCED METROLOGY II
Zu-Han Gu; Alexei A. Maradudin
SPIE Press (2002)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
145,30 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies II
ADVANCED CHARACTERIZATION TECHNIQUES FOR OPTICS, SEMICONDUCTORS, AND NANOTECHNOLOGIES II
Angela Duparre; Bhanwar Singh; Zu-Han Gu
SPIE Press (2005)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
221,20 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies III
ADVANCED CHARACTERIZATION TECHNIQUES FOR OPTICS, SEMICONDUCTORS, AND NANOTECHNOLOGIES III
Angela Duparre; Bhanwar Singh; Zu-Han Gu
SPIE Press (2007)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
221,20 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces II - 2-4 August 2010, San Diego, California, United States
Zu-Han Gu
176,50 €
SPIE Press
Sivumäärä: 360 sivua
Asu: Mikrofilmi
Julkaisuvuosi: 2010, 15.11.2010 (lisätietoa)
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces II - 2-4 August 2010, San Diego, California, United States
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819482884
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Yhteystiedot
Toimitusehdot
Asiakaspalvelu
Tietosuojaseloste