SULJE VALIKKO

avaa valikko

Angela Duparr | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 7 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Optical Fabrication, Testing, and Metrology II
Tekijä: Angela Duparr; Roland Geyl; David Rimmer; Lingli Wang
Kustantaja: SPIE Press (2005)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   219,20
Optical Fabrication, Testing, and Metrology IV - 7-8 September 2011, Marseille, France
Tekijä: Angela Duparre
Kustantaja: SPIE Press (2011)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   190,40
Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies III
Tekijä: Angela Duparre; Bhanwar Singh; Zu-Han Gu
Kustantaja: SPIE Press (2007)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   219,20
Optical Fabrication, Testing, and Metrology III
Tekijä: Angela Duparre; Roland Geyl
Kustantaja: SPIE Press (2008)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   219,20
Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries II
Tekijä: Angela Duparre; Bhanwar Singh
Kustantaja: SPIE Press (2001)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   161,60
Advanced Characterization Techniques for Optical, Semiconductor, and Data Storage Components
Tekijä: Angela Duparre; Bhanwar Singh
Kustantaja: SPIE Press (2002)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   161,60
Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies II
Tekijä: Angela Duparre; Bhanwar Singh; Zu-Han Gu
Kustantaja: SPIE Press (2005)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   219,20
    
Optical Fabrication, Testing, and Metrology II
219,20 €
SPIE Press
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2005, 31.10.2005 (lisätietoa)
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Optical Fabrication, Testing, and Metrology II
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819459831
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste