Goodness-of-Fit Tests for Logistic Regression Models, Xie, Xian Jin, VDM Verlag Dr. Mueller E.K.

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Goodness-of-Fit Tests for Logistic Regression Models

85,80 €

VDM Verlag Dr. Mueller E.K.
Sivumäärä: 172 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2008, 20.08.2008 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9783639074321

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja