SULJE VALIKKO

avaa valikko

Xian Jin Xie | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Goodness-of-Fit Tests for Logistic Regression Models
Xian Jin Xie
VDM Verlag Dr. Mueller E.K. (2008)
Pehmeäkantinen kirja
90,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Three-dimensional Integrated Circuits - Design, EDA, and Architecture
Guangyu Sun; Yibo Chen; Xiangyu Dong; Jin Ouyang; Yuan Xie
now publishers Inc (2011)
Pehmeäkantinen kirja
103,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
AOPC 2017: Optical Spectroscopy and Imaging
Jin Yu; Zhe Wang; Wei Hang; Bing Zhao; Xiandeng Hou; Mengxia Xie; Tsutomu Shimura
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja
238,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Goodness-of-Fit Tests for Logistic Regression Models
90,10 €
VDM Verlag Dr. Mueller E.K.
Sivumäärä: 172 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2008, 20.08.2008 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Goodness-of-Fit Tests for Logistic Regression Modelszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste