SULJE VALIKKO

avaa valikko

Characterization of Organic Thin Films
80,30 €
Momentum Press
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 16.02.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Thin films based upon organic materials are at the heart of much of the revolution in modern technology, from advanced electronics, to optics to sensors to biomedical engineering. This volume in the Materials Characterization series introduces the major common types of analysis used in characterizing of thin films and the various appropriate characterization technologies for each. Materials such as Langmuir-Blodgett films and self-assembled monolayers are first introduced, followed by analysis of surface properties and the various characterization technologies used for such. Readers will find detailed information on:

  • Various spectroscopic approaches to characterization of organic thin films, including infrared spectroscopy and Raman spectroscopy
  • X-Ray diffraction techniques, High Resolution EELS studies, and X-Ray Photoelectron Spectroscopy
  • Concise Summaries of major characterization technologies for organic thin films, including Auger Electron Spectroscopy, Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry, and Transmission Electron Microscopy (TEM)


Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Characterization of Organic Thin Filmszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781606500446
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste