Analysis of Frequency Characteristics of Seismic Reflections with Attenuation in Thin Layer Zone: Methods and Applications., Tai, Shenghong, Proquest, Umi Dissertation Publishing

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Analysis of Frequency Characteristics of Seismic Reflections with Attenuation in Thin Layer Zone: Methods and Applications.

Shenghong Tai

121,20 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 116 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Analysis of Frequency Characteristics of Seismic Reflections with Attenuation in Thin Layer Zone: Methods and Applications.

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781243743664

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Science » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste