SULJE VALIKKO

avaa valikko

Shenghong Tai | Akateeminen Kirjakauppa

ANALYSIS OF FREQUENCY CHARACTERISTICS OF SEISMIC REFLECTIONS WITH ATTENUATION IN THIN LAYER ZONE: METHODS AND APPLICATIONS.

Analysis of Frequency Characteristics of Seismic Reflections with Attenuation in Thin Layer Zone: Methods and Applications.
Shenghong Tai
Proquest, Umi Dissertation Publishing (2011)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
131,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Analysis of Frequency Characteristics of Seismic Reflections with Attenuation in Thin Layer Zone: Methods and Applications.
131,80 €
Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 116 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Analysis of Frequency Characteristics of Seismic Reflections with Attenuation in Thin Layer Zone: Methods and Applications.
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781243743664
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste