SPRINGER VERLAG GMBH Sivumäärä: 312 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2009, 01.05.2009 (lisätietoa) Kieli: Englanti
"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.