Edmund G. Seebauer | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 5 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

ION IMPLANTATION TECHNOLOGY: 17TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ION IMPLANTATION TECHNOLOGY

Edmund G. Seebauer; Susan B. Felch; Amitabh Jain; Yevgeniy V. Kondratenko
Springer London
CD-äänilevy

307,90 €

CHARGED SEMICONDUCTOR DEFECTS - STRUCTURE, THERMODYNAMICS AND DIFFUSION

Edmund G. Seebauer; Meredith C. Kratzer
Springer London Ltd (2008)
Kovakantinen kirja

134,60 €

ION IMPLANTATION TECHNOLOGY : 17TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ION IMPLANTATION TECHNOLOGY

Edmund G. Seebauer (ed.); Susan B. Felch (ed.); Amitabh Jain (ed.); Yevgeniy V. Kondratenko (ed.)
American Institute of Physics (2008)
Kovakantinen kirja

205,10 €

CHARGED SEMICONDUCTOR DEFECTS : STRUCTURE, THERMODYNAMICS AND DIFFUSION

Edmund G. Seebauer; Meredith C. Kratzer
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja

134,60 €

CHARGED SEMICONDUCTOR DEFECTS

Edmund G. Seebauer; Meredith C. Kratzer
SPRINGER VERLAG GMBH (2009)
Pehmeäkantinen kirja

67,50 €

Ion Implantation Technology: 17th International Conference on Ion Implantation Technology

Edmund G. Seebauer, Susan B. Felch, Amitabh Jain, Yevgeniy V. Kondratenko

307,90 €

Springer London
Sivumäärä: 576 sivua
Asu: CD-äänilevy
Vuosi: 2009, 01.03.2009
Kieli: Englanti
Tuotesarja: AIP Conference Proceedings / M 1066

The conference is focused on recent advances and emerging technologies in semiconductor processing before, during and after ion implantation. The content encompasses fundamental physical understanding, common and novel applications as well as equipment issues, maintenance and design. The primary audience is process engineers in the microelectronics industry. Additional contributions come from academia and other industry segments (automotive, aerospace, and medical device manufacturing).

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus