Reliability Characteristics of Rare-earth oxides and Gate Stacks on Ge, Rahman M Shahinur, LAP Lambert Academic Publishing

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Reliability Characteristics of Rare-earth oxides and Gate Stacks on Ge

67,80 €

LAP Lambert Academic Publishing
Sivumäärä: 228 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2013, 29.11.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 17-20 arkipäivässä

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9783659451836

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja