KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
Rahman M Shahinur | Akateeminen Kirjakauppa
RELIABILITY CHARACTERISTICS OF RARE-EARTH OXIDES AND GATE STACKS ON GE | ||
| Reliability Characteristics of Rare-earth oxides and Gate Stacks on Ge 92,10 € LAP Lambert Academic Publishing Sivumäärä: 228 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2013, 29.11.2013 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotteella ei tuotekuvausta. Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9783659451836 Aihealue: | |
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |