Rahman M Shahinur | Akateeminen Kirjakauppa

RELIABILITY CHARACTERISTICS OF RARE-EARTH OXIDES AND GATE STACKS ON GE

Rahman M Shahinur
LAP Lambert Academic Publishing (2013)
Pehmeäkantinen kirja

92,10 €

Reliability Characteristics of Rare-earth oxides and Gate Stacks on Ge

Rahman M Shahinur

92,10 €

LAP Lambert Academic Publishing
Sivumäärä: 228 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2013, 29.11.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9783659451836

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Science » Physics

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste