SULJE VALIKKO

avaa valikko

Progress in Nano-Electro Optics IV : Characterization of Nano-Optical Materials and Optical Near-Field Interactions
129,90 €
Springer
Sivumäärä: 208 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 19.10.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Series in Optical Sciences 109

This volume focuses on the characterization of nano-optical materials and optical near-field interactions. It begins with the techniques for characterizing the magneto-optical Kerr effect and continues with methods to determine structural and optical properties in high-quality quantum wires with high spatial uniformity. Further topics include: near-field luminescence mapping in InGaN/GaN single quantum well structures in order to interpret the recombination mechanism in InGaN-based nano-structures; and theoretical treatment of the optical near field and optical near-field interactions, providing the basis for investigating the signal transport and associated dissipation in nano-optical devices. Taken as a whole, this overview will be a valuable resource for engineers and scientists working in the field of nano-electro-optics.



Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Progress in Nano-Electro Optics IV : Characterization of Nano-Optical Materials and Optical Near-Field Interactions
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783642062261
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste