Growth and Characterization of Wide-Gap Semiconducting Oxide and Chalcogenide Thin Films by Pulsed Laser Deposition., Newhouse, Paul F., Proquest, Umi Dissertation Publishing

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Growth and Characterization of Wide-Gap Semiconducting Oxide and Chalcogenide Thin Films by Pulsed Laser Deposition.

Paul F. Newhouse

125,60 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 166 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Growth and Characterization of Wide-Gap Semiconducting Oxide and Chalcogenide Thin Films by Pulsed Laser Deposition.

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781243554451

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Science » Chemistry » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste