KIRJAUDU
Korttimaksuissa häiriöitä | Card payment d... LUE LISÄÄ
Paul F. Newhouse | Akateeminen Kirjakauppa
GROWTH AND CHARACTERIZATION OF WIDE-GAP SEMICONDUCTING OXIDE AND CHALCOGENIDE THIN FILMS BY PULSED LASER DEPOSITION. | ||
| Growth and Characterization of Wide-Gap Semiconducting Oxide and Chalcogenide Thin Films by Pulsed Laser Deposition. 124,70 € Proquest, Umi Dissertation Publishing Sivumäärä: 166 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotteella ei tuotekuvausta. Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781243554451 Aihealue: | |
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajatUsein kysytyt Akateemisen Ystäväklubi Toimitusehdot Tietosuojaseloste |
Seuraa Akateemista
InstagramThreads TikTok YouTube |