SULJE VALIKKO

avaa valikko

Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems
126,80 €
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sivumäärä: 241 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1st ed. 2017
Julkaisuvuosi: 2017, 05.01.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Tracts in Modern Physics 269
The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides. Finally the observation of multipole orderings with x-ray diffraction is shown.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systemszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783662532256
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste