SULJE VALIKKO

avaa valikko

Design for Testability for RF Circuits and Systems 2017
104,30 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 290 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1st ed. 2017
Julkaisuvuosi: 2017, 15.01.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
As integrated circuits are being designed with faster speed, more complexity, and higher density, the costs of testing them escalates. Traditional testing mechanisms are specification-based and incapable of meeting current pressures for test cost reduction. In addition, with the rapid growth of the wireless telecommunications industry, testing of RF and PLL circuitry has become vitally important. The test costs associated with RF systems is considerable, affecting both time-to-market and product cost requirements. This book serves as a must-have reference to the most efficient, embedded Design-for-Test (DFT) methods for RF/PLL circuits and systems. The main focus is on practical and implementation aspects and the techniques and methodologies presented are supported by extensive use of real silicon data.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Design for Testability for RF Circuits and Systems 2017
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781461409946
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste