SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
97,90 €
Springer International Publishing AG
Sivumäärä: 108 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2013 ed.
Julkaisuvuosi: 2013, 27.06.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Lecture Notes in Electrical Engineering 252
This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits.  The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective.  A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuitszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783319005324
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste